-
1مؤتمر
المؤلفون: Zhan, Run-Ze, Li, Yuan Chun
المصدر: 2023 IEEE International Workshop on Electromagnetics: Applications and Student Innovation Competition (iWEM) Electromagnetics: Applications and Student Innovation Competition (iWEM), 2023 IEEE International Workshop on. :405-407 Jul, 2023
Relation: 2023 IEEE International Workshop on Electromagnetics: Applications and Student Innovation Competition (iWEM)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Zhan, Run-Ze, Li, Yuan Chun, Zhang, Haiwei
المصدر: 2020 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP) Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP), 2020 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on. :1-3 Jul, 2020
Relation: 2020 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP)
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: 詹润泽 Zhan Run-ze, 董承远 Dong Cheng-yuan, 谢汉萍 Shieh Han-ping
المصدر: Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays. 28:55-58
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Field effect, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Amorphous solid, Threshold voltage, Bottom gate, Sputtering, Thin-film transistor, Signal Processing, Electrode, Optoelectronics, Positive bias, business, Instrumentation
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::90085ed8de08c39f88069ac921bfef16
https://doi.org/10.3788/yjyxs20132801.0055 -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Liu, Li‐Wei, Zhou, Qing‐Wei, Zeng, Zhi‐Qiang, Jin, Ming‐Liang, Zhou, Guo‐Fu, Zhan, Run‐Ze, Chen, Huan‐Jun, Gao, Xing‐Sen, Lu, Xu‐Bing, Senz, Stephan, Zhang, Zhang, Liu, Jun‐Ming
المصدر: Journal of Raman Spectroscopy; Oct2016, Vol. 47 Issue 10, p1200-1206, 7p
Full Text Finder