-
1مؤتمر
المؤلفون: Du, Mingfang, Wang, Junzheng, Wang, Lipeng, Cao, Haiqing, Fang, Jianjun, Gao, Zongyu, Lv, Ji, Zhang, Shide
المصدر: 2013 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation Mechatronics and Automation (ICMA), 2013 IEEE International Conference on. :1447-1452 Aug, 2013
Relation: 2013 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation (ICMA)
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Pan, Qing, Wang, Jing, Hussain, Altaf, Gao, Yulong, Cui, Hongyu, Li, Kai, Qi, Xiaole, Liu, Changjun, Zhang, Yanping, Zhang, ShideAff3, Wang, XiaomeiAff1, Aff2
المصدر: Veterinary Research. 51(1)
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Gao, Zongyu, Fang, Jianjun, Zhang, Yinong, Ran, Guowei, Zhang, Shide
المصدر: In International Journal of Electrochemical Science June 2013 8(6):7905-7917
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Jiang, Liying, Rong, Jiesheng, Zhang, Qiuju, Hu, Fulan, Zhang, Shide, Li, Xia, Zhao, Yashuang, Tao, Tianzun
المصدر: Rheumatology International: Clinical and Experimental Investigations. May 2012 32(5):1189-1195
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6
المؤلفون: Xue Lijun, Zhang Shide, Su Wei
المصدر: 2008 International Conference on Intelligent Computation Technology and Automation (ICICTA).
مصطلحات موضوعية: Stuck-at fault, Digital electronics, Engineering, business.industry, Real-time computing, Fault coverage, Node (circuits), Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Fault model, Automatic test pattern generation, business, Fault (power engineering), Fault indicator
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7be681c5af78e418b2d3fbbc743e1d2b
https://doi.org/10.1109/icicta.2008.361 -
7
المؤلفون: Xue Lijun, Su Wei, Zhang Shide
المصدر: 2008 ISECS International Colloquium on Computing, Communication, Control, and Management.
مصطلحات موضوعية: Stuck-at fault, Computer science, Fault coverage, Real-time computing, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Fault model, Automatic test pattern generation, Fault (power engineering), Segmentation fault, Fault detection and isolation, Fault indicator
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3f92cc07b01378d5f0eae2c58050179b
https://doi.org/10.1109/cccm.2008.253 -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.