-
1مؤتمرTowards the Characterization of Full ID-VG Degradation in Transistors for Future Analog Applications
المؤلفون: Ren, Pengpeng, Zhang, Xinfa, Liu, Junhua, Wang, Runsheng, Ji, Zhigang, Huang, Ru
المصدر: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022 IEEE International. :3A.4-1-3A.4-5 Mar, 2022
Relation: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Xi, YuntaoAff1, Aff2, Wang, LeiAff1, Aff3, Zhang, XinfaAff4, Aff5, Xu, JunAff4, Aff5, Lei, Shubin, Feng, Yueming, Hao, Xinyue, Yang, Daoyong
المصدر: Journal of Materials Engineering and Performance. :1-13
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Zhou, Yue, Du, Peng, Song, Zhifei, Zhang, Xinfa, Liu, Yu, Zhang, Yuting, Gu, Xuehong
المصدر: In Journal of Membrane Science Letters May 2023 3(1)
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Luo, Hailin *, Chan, Hoi Kwan, Chang, Yuchun, Wang, Y., Dai, Yisong, Zhang, Xinfa
المصدر: In Journal of Crystal Growth 2001 227:233-237
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10
المؤلفون: Jin Ensun, Dai Yisong, Shi Jiawei, Ma Jing, Zhang Xinfa
المصدر: Microelectronics Reliability. 34:1261-1264
مصطلحات موضوعية: Noise measurement, business.industry, Chemistry, Infrasound, Physics::Optics, Heterojunction, Condensed Matter::Mesoscopic Systems and Quantum Hall Effect, Condensed Matter Physics, Laser, Noise (electronics), Atomic and Molecular Physics, and Optics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, law.invention, Condensed Matter::Materials Science, Reliability (semiconductor), law, Electronic engineering, Optoelectronics, Electrical and Electronic Engineering, Safety, Risk, Reliability and Quality, business, Electronic circuit, Diode