المؤلفون: Wang, W.S., Ren, Z.Y., Shi, Z.W., Xiao, H., Zeng, Y.H., Zhu, L.Q.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 43(5):737-740 May, 2022

المؤلفون: Guo, L.Q., Wen, J., Zhu, L.Q., Fu, Y.M., Xiao, H.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 38(9):1248-1251 Sep, 2017

المؤلفون: Zhu, L.Q., Chao, J.Y., Xiao, H., Liu, R., Wan, Q.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 38(3):322-325 Mar, 2017

المؤلفون: Xiao, H., Zhu, L.Q., Wan, C.J., Liu, Y.H., Liu, R., Wan, Q.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 37(5):591-594 May, 2016

المؤلفون: Zhu, L.Q., Tso, C.Y., Chan, K.C., Wu, C.L., Chao, Christopher Y.H., Chen, J., He, W., Luo, S.W.

المصدر: In Applied Thermal Engineering 25 February 2018 131:649-659

المؤلفون: Chao, J.Y., Zhu, L.Q., Xiao, H., Yuan, Z.G.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 36(8):799-801 Aug, 2015

المؤلفون: Liu, Y., Wan, X., Zhu, L.Q., Shi, Y., Wan, Q.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 35(12):1257-1259 Dec, 2014

المؤلفون: Zhu, L.Q., Gong, Z.W., Ou, B.X., Wu, C.L.

المصدر: In Procedia Engineering 2015 121:129-137

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.