-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Jared V. Peck, Jonathan F. Fay, Joshua D. Strauss
المصدر: IUCrJ, Vol 9, Iss 2, Pp 243-252 (2022)
مصطلحات موضوعية: cryo-electron microscopy, 200 kev cryo-tem, beam image shift, direct-electron detector, Crystallography, QD901-999
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.