يعرض 1 - 10 نتائج من 74 نتيجة بحث عن '"beam-sensitive materials"', وقت الاستعلام: 0.94s تنقيح النتائج
  1. 1
    STEM SerialED: achieving high-resolution data for ab initio structure determination of beam-sensitive nanocrystalline materials

    المؤلفون: Hogan-Lamarre, Pascal, Luo, Yi, Bücker, Robert, Miller, R. J. Dwayne, Zou, Xiaodong

    المصدر: IUCrJ. 11(1):62-72

    مصطلحات موضوعية: serial electron diffraction, scanning transmission electron microscopy, structure determination, nanocrystallography, beam-sensitive materials, zeolites

    وصف الملف: print

    URL الوصول: https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:su:diva-228249
    https://doi.org/10.1107/S2052252523009661

    Find this article in full text from ProQuest
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Strategies to overcome electron-beam issues in liquid phase TEM: Study of chemical processes

    المؤلفون: Zheng, Wenjing, Lee, DaewonAff2, Aff3, Zheng, HaimeiAff2, Aff3, IDs43577024006615_cor3

    المصدر: MRS Bulletin. 49(3):205-213

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    STEM SerialED: achieving high-resolution data for ab initio structure determination of beam-sensitive nanocrystalline materials

    المؤلفون: Pascal Hogan-Lamarre, Yi Luo, Robert Bücker, R. J. Dwayne Miller, Xiaodong Zou

    المصدر: IUCrJ, Vol 11, Iss 1, Pp 62-72 (2024)

    مصطلحات موضوعية: serial electron diffraction, scanning transmission electron microscopy, structure determination, nanocrystallography, beam-sensitive materials, zeolites, Crystallography, QD901-999

    وصف الملف: electronic resource

    Relation: http://scripts.iucr.org/cgi-bin/paper?S2052252523009661; https://doaj.org/toc/2052-2525

    URL الوصول: https://doaj.org/article/21e4aafdd8844c0cbb502f2240241149

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    كتاب إلكتروني
    STEM High Angle Annular Dark-Field Imaging

    المؤلفون: He, QianAff4, Li, AowenAff5, Yao, BingqingAff4, Zhou, WuAff5, Kiely, Christopher J.Aff6

    المساهمون: Merkle, Dieter, Managing EditorAff1, Wachs, Israel E., editorAff2, Bañares, Miguel A., editorAff3

    المصدر: Springer Handbook of Advanced Catalyst Characterization. :409-448

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    A new approach for serial electron diffraction data collection

    المؤلفون: Brent L. Nannenga

    المصدر: IUCrJ, Vol 11, Iss 1, Pp 7-8 (2024)

    مصطلحات موضوعية: serial electron diffraction, scanning transmission electron microscopy, structure determination, nanocrystallography, beam-sensitive materials, zeolites, Crystallography, QD901-999

    وصف الملف: electronic resource

    Relation: http://scripts.iucr.org/cgi-bin/paper?S2052252523010953; https://doaj.org/toc/2052-2525

    URL الوصول: https://doaj.org/article/ad244f2f430f4aa3b221e773755b825f

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View record in Scopus
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View record in Scopus
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View record in Scopus
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    The Development of iDPC-STEM and Its Application in Electron Beam Sensitive Materials

    المؤلفون: Hongyi Wang, Linlin Liu, Jiaxing Wang, Chen Li, Jixiang Hou, Kun Zheng

    المصدر: Molecules, Vol 27, Iss 12, p 3829 (2022)

    مصطلحات موضوعية: electron beam sensitive materials, electron microscopic characterization, low dose, iDPC-STEM, Organic chemistry, QD241-441

    وصف الملف: electronic resource

    Relation: https://www.mdpi.com/1420-3049/27/12/3829; https://doaj.org/toc/1420-3049

    URL الوصول: https://doaj.org/article/6c47b3fcd5004a73ad1a6bfb33158844

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    Low-Dose Electron Crystallography: Structure Solution and Refinement

    المؤلفون: Holger Klein, Stéphanie Kodjikian, Emre Yörük, Pierre Bordet

    المصدر: Symmetry, Vol 14, Iss 2, p 245 (2022)

    مصطلحات موضوعية: electron crystallography, beam sensitive materials, structure solution, structure refinement, 3D electron diffraction, Mathematics, QA1-939

    وصف الملف: electronic resource

    Relation: https://www.mdpi.com/2073-8994/14/2/245; https://doaj.org/toc/2073-8994

    URL الوصول: https://doaj.org/article/be96a94daf04428c86a7114e84bb20eb

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء