يعرض 1 - 10 نتائج من 27,014 نتيجة بحث عن '"central limit theorem"', وقت الاستعلام: 1.02s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Park, S., Choi, W.

    المصدر: IEEE Transactions on Wireless Communications IEEE Trans. Wireless Commun. Wireless Communications, IEEE Transactions on. 23(5):4269-4283 May, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Hayashi, M., Vazquez-Castro, A.

    المصدر: IEEE Transactions on Communications IEEE Trans. Commun. Communications, IEEE Transactions on. 72(3):1516-1531 Mar, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Zhang, S., Wang, F., Fan, F.

    المصدر: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems IEEE Trans. Neural Netw. Learning Syst. Neural Networks and Learning Systems, IEEE Transactions on. 35(2):2881-2886 Feb, 2024

  4. 4
    مؤتمر

    المؤلفون: Anada, Hiroaki

    المصدر: 2024 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE) Consumer Electronics (ICCE), 2024 IEEE International Conference on. :1-6 Jan, 2024

    Relation: 2024 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE)

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Zhang, Li-XinAff1, IDs40304022002947_cor1

    المصدر: Communications in Mathematics and Statistics. 12(2):357-383

  6. 6
    مؤتمر

    المصدر: 2023 3rd International Conference on Electrical, Computer, Communications and Mechatronics Engineering (ICECCME) Electrical, Computer, Communications and Mechatronics Engineering (ICECCME), 2023 3rd International Conference on. :1-4 Jul, 2023

    Relation: 2023 3rd International Conference on Electrical, Computer, Communications and Mechatronics Engineering (ICECCME)

  7. 7
  8. 8
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Zhang, X., Song, S.

    المصدر: IEEE Transactions on Information Theory IEEE Trans. Inform. Theory Information Theory, IEEE Transactions on. 69(9):5497-5527 Sep, 2023

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell. Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on. 45(9):11184-11202 Sep, 2023

  10. 10