يعرض 1 - 10 نتائج من 10 نتيجة بحث عن '"conducting atomic force microscopy (c-afm)"', وقت الاستعلام: 0.98s تنقيح النتائج
  1. 1
  2. 2
    دورية أكاديمية
  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Yu, X., Huang, J., Yu, M., Zhu, C.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 28(5):373-375 May, 2007

  4. 4
    كتاب إلكتروني

    المؤلفون: Ferri, A.Aff8, Aff9, Aff10, Rémiens, D.Aff11, Aff8, Aff12, Desfeux, R.Aff9, Aff10, Aff8, Da Costa, A.Aff9, Aff10, Aff8, Deresmes, D.Aff8, Aff12, Aff13, Troadec, D.Aff8, Aff12, Aff13

    المساهمون: Wang, Zhiming M, Series editorAff1, Waag, Andreas, Series editorAff2, Salamo, Greg, Series editorAff3, Kishimoto, Naoki, Series editorAff4, Bellucci, Stefano, Series editorAff5, Park, Young June, Series editorAff6, Wang, Zhiming M., editorAff7

    المصدر: FIB Nanostructures. 20:417-434

  5. 5

    المصدر: Beilstein Journal of Nanotechnology
    Beilstein journal of nanotechnology 11, 814-820 (2020). doi:10.3762/bjnano.11.66
    Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 11, Iss 1, Pp 814-820 (2020)

  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  8. 8
    مؤتمر

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  9. 9
    دورية أكاديمية
  10. 10
    دورية أكاديمية