يعرض 1 - 10 نتائج من 6,945 نتيجة بحث عن '"critical dimension"', وقت الاستعلام: 1.05s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Program Start Bias Grouping to Compensate for the Geometric Property of a String in 3-D NAND Flash Memory

    المؤلفون: Kim, S., Ahn, S., Park, S., Kim, J., Shin, H.

    المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 12:262-267 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    An Optical Critical Dimension (OCD) Study with Standard Structures

    المؤلفون: Wang, Qi, Liu, Xianhe, Wu, Qiang, Li, Yanli

    المصدر: 2023 International Workshop on Advanced Patterning Solutions (IWAPS) Advanced Patterning Solutions (IWAPS), 2023 International Workshop on. :1-4 Oct, 2023

    Relation: 2023 International Workshop on Advanced Patterning Solutions (IWAPS)

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Methods for Fin Etching profile maintaining and measurement

    المؤلفون: Xu, Yun, Wu, Tong, Chen, Fairy

    المصدر: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2023 China. :1-4 Jun, 2023

    Relation: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Critical Dimension Scatterometry as a Scalable Solution for Hybrid Bonding Pad Recess Metrology

    المؤلفون: Niazi, Haris Khan, Zhang, Botao, Brun, Xavier F., Krishnan, Shankar, Chuang, James

    المصدر: 2023 IEEE 73rd Electronic Components and Technology Conference (ECTC) ECTC Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2023 IEEE 73rd. :1403-1409 May, 2023

    Relation: 2023 IEEE 73rd Electronic Components and Technology Conference (ECTC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    The Analysis of Optical Critical Dimension (OCD) Signal Strength Between 5 nm FinFET and 3 nm Complementary FET (CFET) Vertical Gate Stacks

    المؤلفون: Wang, Qi, Wu, Qiang, Liu, Xianhe, Li, Yanli

    المصدر: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2023 China. :1-3 Jun, 2023

    Relation: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    رسالة جامعية
    La dimensión crítica del teatro de Roger Bernat, René Pollesch y Christina Schmutz/ Frithwin Wagner-Lippok. Uso de texto y reflexión crítica en la conjunción de teoría y práctica. Una aproximación fenomenológica a Numax-Fagor-Plus, Kill Your Darlings! Streets of Berladelphia y els suplicants//conviure a bcn

    المؤلفون: Schmutz, Christina

    المساهمون: University/Department: Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Filologia Catalana

    مرشدي الرسالة: cschmutz@telefonica.net, Foguet i Boreu, Francesc, 1971-

    المصدر: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

    مصطلحات موضوعية: Dimensió crítica, Dimensión crítica, Critical dimension, Teoria i pràctica, Teoría y práctica, Theory and practice, Orientació fenomenològic, Orientación fenomenológica, Fenomenological orientation, Ciències Humanes

    وصف الملف: application/pdf

    URL الوصول: http://hdl.handle.net/10803/650283

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Predicting the Critical Dimensions of Micron and Sub-micron Structures Using Joint Training Models and Electromagnetic Simulation Tools

    المؤلفون: Li, Jia-Wei, Hsu, Chong-Han, Wang, Jiao-Kai, Tsai, Bo-En, Su, Eugene, Ho, Chao-ChingAff1, IDs12541024009811_cor6

    المصدر: International Journal of Precision Engineering and Manufacturing. :1-9

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    كتاب إلكتروني
    Lithography Equipment

    المؤلفون: He, RongmingAff5, Cheng, JianruiAff5, Wang, FanAff5

    المساهمون: Wang, Yangyuan, editorAff1, Chi, Min-Hwa, editorAff2, Lou, Jesse Jen-Chung, editorAff3, Chen, Chun-Zhang, editorAff4

    المصدر: Handbook of Integrated Circuit Industry. :1327-1359

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    كتاب إلكتروني
    Semiconductor Device Manufacturing Technologies

    المؤلفون: Banerjee, AmalAff2

    المساهمون: Banerjee, AmalAff1

    المصدر: Semiconductor Devices : Diodes, Transistors, Solar Cells, Charge Coupled Devices and Solid State Lasers. :181-207

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    Monte Carlo solution of the reflected systems’ criticality problems with Anlı–Güngör, Inönü and tetra-anisotropic kernels for both fission and scattered neutrons

    المؤلفون: Maleki, Bahram RAff1, Aff2, IDs12043024027818_cor1

    المصدر: Pramana: Published by the Indian Academy of Sciences. 98(3)

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء