المؤلفون: Hao HUANG, Yu ZHANG, Jiafei LU, zhenhua DAN, Hui CHANG, Lian ZHOU

المصدر: Medžiagotyra (2023)

مصطلحات موضوعية: ti-6al-4v eli alloy, alternating stress, compressive creep, dislocation slip, dislocation multiplication, Mining engineering. Metallurgy, TN1-997

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://matsc.ktu.lt/index.php/MatSc/article/view/31914; https://doaj.org/toc/1392-1320; https://doaj.org/toc/2029-7289

URL الوصول: https://doaj.org/article/196b8b98b6f7458db127681abd21b90f

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Wang, Peng-Jie, Cao, Qiang^Aff1, Liu, Sheng, Peng, Qing^{Aff2, Aff3}

المصدر: Tungsten. 3(2):234-242

المؤلفون: Haiyue Xu, Wei Ji, Weiming Guo, Yulin Li, Ji Zou, Weimin Wang, Zhengyi Fu

المصدر: Advanced Science, Vol 9, Iss 6, Pp n/a-n/a (2022)

مصطلحات موضوعية: dislocation multiplication, grain‐refining, oxidation resistance, plastic deformation, ultra‐high pressure sintering, Science

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doaj.org/toc/2198-3844

URL الوصول: https://doaj.org/article/4b14d44e10b441e2bd3d377e5e07324c

المؤلفون: Pengjie Wang, Qiang Cao, Sheng Liu, Qing Peng

المصدر: Materials & Design, Vol 205, Iss , Pp 109754- (2021)

مصطلحات موضوعية: Femtosecond laser peening, Surface mechanical strengthening, Surface roughness, Dislocation multiplication, Pinning effect, Materials of engineering and construction. Mechanics of materials, TA401-492

وصف الملف: electronic resource

Relation: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0264127521003075; https://doaj.org/toc/0264-1275

URL الوصول: https://doaj.org/article/164f8ded49bd4c2eb9157d9a67ee8638

المؤلفون: Hirao, Masahiko^Aff7, Ogi, Hirotsugu^Aff7

المساهمون: Cain, Markys G., Series editor^Aff1, Rossi, Giovanni Battista, Series editor^Aff2, Tesař, Jiří, Series editor^Aff3, van Veghel, Marijn, Series editor^Aff4, Hirao, Masahiko^Aff5, Ogi, Hirotsugu^Aff6

المصدر: Electromagnetic Acoustic Transducers : Noncontacting Ultrasonic Measurements using EMATs. :337-345

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Gao, Bing^Aff16, Kakimoto, Koichi^Aff16

المساهمون: Beiglböck, Wolf, Founding Editor^Aff1, Ehlers, Jürgen, Founding Editor^Aff2, Hepp, Klaus, Founding Editor^Aff3, Weidenmüller, Hans-Arwed, Founding Editor^Aff4, Citro, Roberta, Series Editor^Aff5, Hänggi, Peter, Series Editor^Aff6, Hjorth-Jensen, Morten, Series Editor^Aff7, Lewenstein, Maciej, Series Editor^Aff8, Rubio, Angel, Series Editor^Aff9, Schleich, Wolfgang, Series Editor^Aff10, Theisen, Stefan, Series Editor^Aff11, Wells, James D., Series Editor^Aff12, Zank, Gary P., Series Editor^Aff13, Yoshida, Yutaka, editor^Aff14, Langouche, Guido, editor^Aff15

المصدر: Defects and Impurities in Silicon Materials : An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering. 916:241-272

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.