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1
المؤلفون: Shmakova, Natalia
المساهمون: STAR, ABES, Laboratoire des Écoulements Géophysiques et Industriels [Grenoble] (LEGI ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Université Grenoble Alpes, Jan-Bert Flór, Bruno Voisin
المصدر: Sciences de la Terre. Université Grenoble Alpes, 2016. Français. ⟨NNT : 2016GREAU040⟩
مصطلحات موضوعية: Topographic effects, Marée interne, Internal tide, Fluides stratifiés, [SDU.STU] Sciences of the Universe [physics]/Earth Sciences, [SDU.STU]Sciences of the Universe [physics]/Earth Sciences, Internal waves, Ondes internes, Stratified flows, Effets topographiques
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::72201eebe7afbdf2c3e02c961abccded
https://theses.hal.science/tel-01562044 -
2
المؤلفون: De Martin, Florent
المساهمون: Bureau de Recherches Géologiques et Minières (BRGM) (BRGM), convention 2011 n° 2100472261 entre Ministère de l’écologie du développement durable et de l'énergie et le BRGM
المصدر: 9ème Colloque National AFPS 2015
9ème Colloque National AFPS 2015, Nov 2015, Champs-sur-marne, Franceمصطلحات موضوعية: response spectrum, butte, topographic effects, ridge, méthode en éléments-finis spectraux, tremblement de terre, spectral element method, versant, pente, [INFO.INFO-NA]Computer Science [cs]/Numerical Analysis [cs.NA], amplification factor, effets topographiques, coefficient d’amplification, earthquake, slope, [SPI.GCIV.RISQ]Engineering Sciences [physics]/Civil Engineering/Risques, séisme, Eurocode 8, spectre de réponse, [SDU.OTHER]Sciences of the Universe [physics]/Other
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::a06ba99c707b43a446c5ccfcfa9f6519
https://hal-brgm.archives-ouvertes.fr/hal-01237417 -
3
المؤلفون: Saied, Mazen
المساهمون: Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique (IMEP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF), Université de Grenoble, Isabelle Schanen Duport
المصدر: Autre. Université de Grenoble, 2011. Français. ⟨NNT : 2011GRENT079⟩
مصطلحات موضوعية: DDM, [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other, Photolithography, Kirchhoff, Stabilité, Effets topographiques, Méthode perturbative, Photolithographie, 193 nm, Optical system, Resist, Topography effects, 3D mask effects, Accuracy, Résine, Masque, Mask, Modeling, Champ proche, Précision, Système optique, M3D, Near-field, Modélisation, Optical proximity effects, Effets 3D du masque, Perturbative method, Multi-level method, Effets de proximité optique, Stability, OPC, Méthode multi-niveaux
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::37c3b1c4f29ffd9e51565ff3b8378c2d
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00682907 -
4
المؤلفون: Saied, Mazen
المساهمون: STAR, ABES, Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique (IMEP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF), Université de Grenoble, Isabelle Schanen Duport
المصدر: Autre. Université de Grenoble, 2011. Français. ⟨NNT : 2011GRENT079⟩
مصطلحات موضوعية: [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other, DDM, Photolithography, Kirchhoff, Stabilité, Effets topographiques, Méthode perturbative, Photolithographie, 193 nm, Optical system, Resist, Topography effects, 3D mask effects, Accuracy, Résine, Masque, Mask, [SPI.OTHER] Engineering Sciences [physics]/Other, Modeling, Champ proche, Précision, Système optique, M3D, Near-field, Modélisation, Optical proximity effects, Effets 3D du masque, Multi-level method, Perturbative method, Effets de proximité optique, OPC, Stability, Méthode multi-niveaux
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::37c3b1c4f29ffd9e51565ff3b8378c2d
https://theses.hal.science/tel-00682907