-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Neal, Sabine N, O’Neal, Kenneth R, Haglund, Amanda V, Mandrus, David G, Bechtel, Hans A, Carr, G Lawrence, Haule, Kristjan, Vanderbilt, David, Kim, Heung-Sik, Musfeldt, Janice L
المصدر: 2D Materials. 8(3)
مصطلحات موضوعية: CrPS4, van der Waals solid, exfoliated monolayer, ultra-thin limit, near-field infrared spectroscopy, symmetry analysis, polar and chiral materials, symmetry crossover, Macromolecular and Materials Chemistry, Materials Engineering, Nanotechnology
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://escholarship.org/uc/item/5b19t1s3
-
2
المؤلفون: Neal, SN, O'Neal, KR, Haglund, AV, Mandrus, DG, Bechtel, HA, Carr, GL, Haule, K, Vanderbilt, D, Kim, HS, Musfeldt, JL
المصدر: 2D Materials, vol 8, iss 3
مصطلحات موضوعية: exfoliated monolayer, symmetry analysis, van der Waals solid, symmetry crossover, ultra-thin limit, near-field infrared spectroscopy, Nanotechnology, CrPS4, Materials Engineering, polar and chiral materials, Macromolecular and Materials Chemistry
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0d1d3fdc72ed68c02ca02cf958cf3683
https://escholarship.org/uc/item/5b19t1s3 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.