-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Yang, Feng, Wang, XiangkunAff1, IDs00202024025881_cor2, Xia, Lei, Feng, Chongyang, Wang, Yao
المصدر: Electrical Engineering: Archiv für Elektrotechnik. :1-16
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Hongkang Liu, Kehui Peng, Yatian Zhao, Qian Yu, Zhiqiang Kong, Jianqiang Chen
المصدر: Advances in Aerodynamics, Vol 6, Iss 1, Pp 1-22 (2024)
مصطلحات موضوعية: Boundary layer transition, Gap-type roughness, Direct numerical simulation, Supersonic flow stability, Engineering (General). Civil engineering (General), TA1-2040, Motor vehicles. Aeronautics. Astronautics, TL1-4050
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2524-6992
-
3دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 10:309-312 2022
-
4دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 68(12):6177-6181 Dec, 2021
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Osa, M., Masuzawa, T., Yamaguchi, K., Tatsumi, E.
المصدر: IEEE Transactions on Industry Applications IEEE Trans. on Ind. Applicat. Industry Applications, IEEE Transactions on. 57(6):6744-6753 Jan, 2021
-
6دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 9:517-520 2021
-
7دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Sensors Letters IEEE Sens. Lett. Sensors Letters, IEEE. 3(10):1-4 Oct, 2019
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Liu, HongkangAff1, Aff2, Aff3, Peng, KehuiAff1, Aff2, Aff3, Zhao, YatianAff1, Aff2, Aff3, Yu, QianAff1, Aff2, Aff3, Kong, ZhiqiangAff1, Aff2, Aff3, Chen, JianqiangAff4, IDs42774024001771_cor6
المصدر: Advances in Aerodynamics. 6(1)
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Cong, XiangnaAff1, Aff2, Zheng, Yue, Huang, Fu, You, Qi, Tang, Jian, Fang, Feier, Jiang, Ke, Han, ChengAff1, IDs1227402244637_cor8, Shi, Yumeng
المصدر: Nano Research. 15(9):8442-8450
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Ya-Hsiang Tai, Yi-Cheng Yuan, Cheng-Che Tu, Pin-Chun Wang
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 309-312 (2022)
مصطلحات موضوعية: Amorphous silicon, gap-type, thin-film transistors (TFTs), noise, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource