-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Sanguk Lee, Jinsu Jeong, Jun-Sik Yoon, Seunghwan Lee, Junjong Lee, Jaewan Lim, Rock-Hyun Baek
المصدر: Nanomaterials, Vol 12, Iss 19, p 3349 (2022)
مصطلحات موضوعية: nanosheet FET, inner spacer, inner spacer thickness variation, performance sensitivity, source/drain recess depth, TCAD simulation, Chemistry, QD1-999
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.