-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Devki N. Talwar, Piotr Becla
المصدر: Solids, Vol 4, Iss 4, Pp 287-303 (2023)
مصطلحات موضوعية: novel (SiC)m/(GeC)n superlattices, interfacial layer thickness, Raman intensity profiles, lattice dynamics, localization of atomic displacements, Chemistry, QD1-999
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Devki N. Talwar, Sky Semone, Piotr Becla
المصدر: Materials, Vol 17, Iss 13, p 3082 (2024)
مصطلحات موضوعية: novel C-based (XC)m/(YC)n superlattices, interfacial layer thickness, Raman intensity profiles, lattice dynamics, localization of atomic displacements, Technology, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971, Engineering (General). Civil engineering (General), TA1-2040, Microscopy, QH201-278.5, Descriptive and experimental mechanics, QC120-168.85
وصف الملف: electronic resource
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7كتاب إلكتروني
المؤلفون: Chang, J.P.
المساهمون: Itoh, Kiyoo, editorAff1, Lee, Thomas, editorAff2, Sakurai, Takayasu, editorAff3, Sansen, Willy M. C., editorAff4, Schmitt-Landsiedel, Doris, editorAff5, Huff, H.R., editorAff6, Gilmer, D.C., editorAff7
المصدر: High Dielectric Constant Materials : VLSI MOSFET Applications. 16:379-413
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.