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1مؤتمر
المؤلفون: He, Kang, Chakraborty, Indranil, Wang, Cheng, Roy, Kaushik
المصدر: 2022 IEEE/ACM International Conference On Computer Aided Design (ICCAD) Computer Aided Design (ICCAD)2022 IEEE/ACM International Conference On. :1-9 Oct, 2022
Relation: 2022 IEEE/ACM International Conference On Computer Aided Design (ICCAD)
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2دورية أكاديمية
المؤلفون: Marcel Gangwisch, Andreas Matzarakis
المصدر: Environment International, Vol 187, Iss , Pp 108718- (2024)
مصطلحات موضوعية: Heat health warning system, Heat health action plan, Urban heat island analysis, Iso-area analysis, Recommendation for action, Environmental sciences, GE1-350
وصف الملف: electronic resource
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3مؤتمر
المؤلفون: K.S., Sreekala, Krishnakumar, S.
المصدر: 2018 International Conference on Circuits and Systems in Digital Enterprise Technology (ICCSDET) Circuits and Systems in Digital Enterprise Technology (ICCSDET), 2018 International Conference on. :1-5 Dec, 2018
Relation: 2018 International Conference on Circuits and Systems in Digital Enterprise Technology (ICCSDET)
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4دورية أكاديمية
المؤلفون: Saeidi, R., Sharifkhani, M., Hajsadeghi, K.
المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 61(1):26-30 Jan, 2014
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5دورية أكاديمية
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6دورية أكاديمية
المؤلفون: V. A. Hodyakov, A. V. Kulan, E. N. Savina, I. L. Boiko, V. A. Grechuhin
المصدر: Nauka i Tehnika, Vol 20, Iss 1, Pp 10-15 (2021)
مصطلحات موضوعية: relative deformation, sag, vibration velocity, vibration displacement, iso-area, durability, load, vibration response, unevenness, 3d-scanning, impact, stiffness, vibrometry, tensometry, dynamic impact, Technology
وصف الملف: electronic resource
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7دورية أكاديمية
المؤلفون: Chang, M.-H., Chiu, Y.-T., Hwang, W.
المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 59(7):429-433 Jul, 2012
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8دورية أكاديمية
المؤلفون: Xiong, Huanliang, Zeng, Guosun, Zeng, Yuan, Wang, Wei, Wu, Canghai
المصدر: The Journal of Supercomputing: An International Journal of High-Performance Computer Design, Analysis, and Use. May 2014 68(2):652-671
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9
المؤلفون: Dureisseix, David
المساهمون: Dureisseix, David, Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon
مصطلحات موضوعية: [MATH.MATH-GM]Mathematics [math]/General Mathematics [math.GM], checkered patterns, origami, iso-area, [MATH.MATH-GM] Mathematics [math]/General Mathematics [math.GM]
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::640c9ba1476e0164a938e96a0626186e
https://hal.science/hal-02151659v2 -
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المؤلفون: Yang, Mingqiang, Kpalma, Kidiyo, Ronsin, Joseph
المساهمون: Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)
المصدر: Electronics Letters
Electronics Letters, IET, 2007, pp.6
Electronics Letters, 2007, pp.6مصطلحات موضوعية: Contour, Filter, Computer Science::Computer Vision and Pattern Recognition, iso-area, [INFO.INFO-TI]Computer Science [cs]/Image Processing [eess.IV], Descriptor, Affine-invariant, Noise
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