-
1مورد إلكتروني
عناروين إضافية: Characterization of thin layers and bulk semiconductors
مصطلحات الفهرس: spektroskopická elipsometrie, optické konstanty, index lomu, extinkční koeficient, tenké vrstvy, objemové polovodiče, termoelektrické vlastnosti, spectroscopic ellipsometry, optical constants, refraction index, extinction coefficient, thin films, bulk semiconductors, thermoelectric properties, habilitační práce