-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Penthong, T., Ginocchi, M., Ahmadifar, A., Ponci, F., Monti, A.
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 11:65181-65196 2023
-
2دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Access, Vol 11, Pp 65181-65196 (2023)
مصطلحات موضوعية: Hardware-in-the-loop, IEC 61850, interoperability testing, multiple feeder faults, overcurrent protection function, real-time digital simulator, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource