المؤلفون: Khaled Kaja, Ammar Assoum, Peter De Wolf, François Piquemal, Antonio Nehmee, Adnan Naja, Taha Beyrouthy, Mustapha Jouiad

المصدر: Advanced Materials Interfaces, Vol 11, Iss 2, Pp n/a-n/a (2024)

مصطلحات موضوعية: AFM, data clustering, dielectric constant, KPFM, nano tomography, peak force tapping, Physics, QC1-999, Technology

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doaj.org/toc/2196-7350

URL الوصول: https://doaj.org/article/e6a583beb9e14f76a183087b54744b54

المؤلفون: Li, M., Xi, N., Wang, Y., Liu, L.

المصدر: IEEE Transactions on NanoBioscience IEEE Trans.on Nanobioscience NanoBioscience, IEEE Transactions on. 18(4):597-610 Oct, 2019

المؤلفون: Li, M., Xi, N., Wang, Y., Liu, L.

المصدر: IEEE Transactions on NanoBioscience IEEE Trans.on Nanobioscience NanoBioscience, IEEE Transactions on. 18(3):448-455 Jul, 2019

المؤلفون: Li, M., Xi, N., Wang, Y., Liu, L.

المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 18:315-328 2019

المؤلفون: Wang, Shoujin^Aff5, Hao, Chunxue^Aff5

المساهمون: Xhafa, Fatos, Series Editor^Aff1, J. Jansen, Bernard, editor^Aff2, Liang, Haibo, editor^Aff3, Ye, Jun, editor^Aff4

المصدر: International Conference on Cognitive based Information Processing and Applications (CIPA 2021) : Volume 2. 85:671-679

المؤلفون: Voigtländer, Bert^{Aff8, Aff9}

المساهمون: Avouris, Phaedon, Series editor^Aff1, Bhushan, Bharat, Series editor^Aff2, Bimberg, Dieter, Series editor^Aff3, von Klitzing, Klaus, Series editor^Aff4, Sakaki, Hiroyuki, Series editor^Aff5, Wiesendanger, Roland, Series editor^Aff6, Voigtländer, Bert^Aff7

المصدر: Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy. :223-227

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Costa, Italo Carvalho da

المساهمون: Fonseca Filho, Henrique Duarte da, Brito, Walter Ricardo, Paula, Marcos Marques da Silva

المصدر: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFAM
Universidade Federal do Amazonas (UFAM)
instacron:UFAM

مصطلحات موضوعية: Materiais nanoestruturados, Pimenta-do-reino, Ess??ncias e ??leos essenciais, C??psulas (Farm??cia), Peak-force tapping, ENGENHARIA DE MATERIAIS E METAL??RGICA [ENGENHARIAS], Piper nigrum, Nanoencapsulamento, Morfologia

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::428ed6787a951537d946100d343d8455
https://tede.ufam.edu.br/handle/tede/7611

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.