-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Chernysh, V. S., Ieshkin, A. E.Aff1, IDS1063784224010067_cor2, Kireev, D. S., Minnebaev, D. K., Skryleva, E. A., Senatulin, B. R.
المصدر: Technical Physics. 69(2):160-168
-
2مؤتمر
المؤلفون: Koshiba, Keiko, Iizuka, Tomonori, Tanaka, Toshikatsu, Tatsumi, Kohei, Mabuchi, Takahiro, Yin, Xiaohong, Umemoto, Takahiro, Muto, Hirotaka
المصدر: 2020 International Symposium on Electrical Insulating Materials (ISEIM) Electrical Insulating Materials (ISEIM), 2020 International Symposium on. :95-98 Sep, 2020
Relation: 2020 International Symposium on Electrical Insulating Materials (ISEIM)
-
3دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 42(4):529-532 Apr, 2021
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: M. Reinhart, S. Möller, A. Kreter, M. Rasinski, B. Kuhn
المصدر: Nuclear Materials and Energy, Vol 33, Iss , Pp 101244- (2022)
مصطلحات موضوعية: RAFM Steels, Tungsten surface enrichment, Surface morphology, Preferential sputtering, Nuclear engineering. Atomic power, TK9001-9401
وصف الملف: electronic resource
-
5
المؤلفون: Koslowski, H.R., Bhattacharyya, S.R., Hansen, P., Linsmeier, Ch., Rasinski, M., Ström, Petter
المصدر: Nuclear Materials and Energy. 16:181-190
مصطلحات موضوعية: Low energy ion scattering (LEIS), EUROFER, Plasma-surface interaction, Preferential sputtering, W diffusion in Fe, Diffusion activation energy, Fysik, Physics
وصف الملف: print
-
6
المصدر: NUCLEAR MATERIALS AND ENERGY. 12:472-477
مصطلحات موضوعية: Eurofer, Model film, ToF-MEIS, Preferential sputtering, Surface enrichment
وصف الملف: electronic
-
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
المؤلفون: M.I. Patino, R.P. Doerner, G.R. Tynan
المصدر: Nuclear Materials and Energy, Vol 23, Iss , Pp - (2020)
مصطلحات موضوعية: Aluminum nitride, Aluminum oxide, Deuterium, Helium, Preferential sputtering, Nuclear engineering. Atomic power, TK9001-9401
وصف الملف: electronic resource
-
9دورية أكاديمية
المصدر: Philosophical Transactions: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 2004 Jan . 362(1814), 55-75.
URL الوصول: https://www.jstor.org/stable/4142336
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Lukasz Rzeznik, Yves Fleming, Tom Wirtz, Patrick Philipp
المصدر: Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 7, Iss 1, Pp 1113-1128 (2016)
مصطلحات موضوعية: Helium ion microscopy, irradiation, polymers, preferential sputtering, secondary ion mass spectrometry, simulations, Technology, Chemical technology, TP1-1185, Science, Physics, QC1-999
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2190-4286