يعرض 1 - 10 نتائج من 414 نتيجة بحث عن '"scanning probe microscopy (SPM)"', وقت الاستعلام: 0.92s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Work Function, Electrostatic Force Microscopy, Tunable Photoluminescence of Gold Nanoparticles, and Plasmonic Interaction of Gold Nanoparticles/Rhodamine 6G Nanocomposite

    المؤلفون: Musa, IshaqAff1, IDs11468024024841_cor1, Ghabboun, Jamal

    المصدر: Plasmonics. :1-10

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Tunable Spatial Resolution of a Scanning Probe Microscopy (SPM) by an Efficient Cryosorption Pump

    المؤلفون: Kumar, R.R., Gour, A.S., Adyam, V.

    المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 23(14):16107-16114 Jul, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Atomic force microscopy with qPlus sensors

    المؤلفون: Giessibl, Franz J.Aff1, IDs4357702300654w_cor1

    المصدر: MRS Bulletin. 49(5):492-502

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    رسالة جامعية
    Nanoscale properties of self-assembled and laterally nanostructured surface systems

    المؤلفون: Paradinas Aranjuelo, Marcos

    المساهمون: University/Department: Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Antropologia Social i de Prehistòria

    مرشدي الرسالة: Ocal García, Carmen, Pascual i Gainza, Jordi

    المصدر: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

    مصطلحات موضوعية: Self-assembled and nanostructured systems, Scanning probe microscopy (SPM), Scanning force microscopy, SFM, Ciències Humanes

    Time: 538.9

    وصف الملف: application/pdf

    URL الوصول: http://hdl.handle.net/10803/294269

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    The Sensitivity of Subsurface Contact Resonance Atomic Force Microscopy to Changes in the Depth of Buried Features: a Nonlinear Approach

    المؤلفون: Hoogesteger, M.M., Sadeghian, H., Nijmeijer, H.

    المصدر: 2021 IEEE/ASME International Conference on Advanced Intelligent Mechatronics (AIM) Advanced Intelligent Mechatronics (AIM), 2021 IEEE/ASME International Conference on. :110-115 Jul, 2021

    Relation: 2021 IEEE/ASME International Conference on Advanced Intelligent Mechatronics (AIM)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    An Apertureless Scanning Near-Field Optical Microscope Probe with a Lateral Resolution of 10 – 15 nm Observed with a Semiconductor Structure

    المؤلفون: Kazantsev, D. V.Aff1, Aff2, Aff3, IDs10946023101742_cor1, Klekovkin, A. V., Minaev, I. I., Kazantseva, E. A., Nikolaev, S. N.

    المصدر: Journal of Russian Laser Research. 44(6):656-662

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Deep learning for electron and scanning probe microscopy: From materials design to atomic fabrication

    المؤلفون: Kalinin, Sergei V.Aff1, IDs43577022004133_cor1, Ziatdinov, Maxim, Spurgeon, Steven R.Aff3, Aff4, Ophus, Colin, Stach, Eric A., Susi, Toma, Agar, Josh, Randall, John

    المصدر: MRS Bulletin. 47(9):931-939

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Machine Learning Allows for Distinguishing Precancerous and Cancerous Human Epithelial Cervical Cells Using High-Resolution AFM Imaging of Adhesion Maps

    المؤلفون: Mikhail Petrov, Igor Sokolov

    المصدر: Cells, Vol 12, Iss 21, p 2536 (2023)

    مصطلحات موضوعية: cancer detection, machine learning, atomic force microscopy (AFM), scanning probe microscopy (SPM), Cytology, QH573-671

    وصف الملف: electronic resource

    Relation: https://www.mdpi.com/2073-4409/12/21/2536; https://doaj.org/toc/2073-4409

    URL الوصول: https://doaj.org/article/d6ae1268e7f5422cbd8baed36c30296c

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    Thin-layer studies on surface functionalization of polyetherimide: Hydrolysis versus amidation

    المؤلفون: Machatschek, RainhardAff1, Aff2, IDs43578021003397_cor1, Heuchel, Matthias, Lendlein, AndreasAff1, Aff2

    المصدر: Journal of Materials Research. 37(1):67-76

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    كتاب إلكتروني
    Optical and Electron Microscopy for Analysis of Nanomaterials

    المؤلفون: Kim, HyoyeonAff8, Murata, Michael M.Aff9, Chang, HyejinAff10, Lee, Sang HunAff11, Kim, JaehiAff12, Lee, Jong HunAff13, Rho, Won-YeopAff8, Jun, Bong-HyunAff12

    المساهمون: Crusio, Wim E., Series EditorAff1, Dong, Haidong, Series EditorAff2, Radeke, Heinfried H., Series EditorAff3, Rezaei, Nima, Series EditorAff4, Steinlein, Ortrud, Series EditorAff5, Xiao, Junjie, Series EditorAff6, Jun, Bong-Hyun, editorAff7

    المصدر: Nanotechnology for Bioapplications. 1309:277-287

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء