المؤلفون: Cai, Zhuoli, Li, Mingru, Wang, Weiwang, Min, Daomin, Li, Shengtao, Zhang, Liangxian, Yang, Wei, Chen, Yun, Wang, Kun

المصدر: 2020 IEEE International Conference on High Voltage Engineering and Application (ICHVE) High Voltage Engineering and Application (ICHVE), 2020 IEEE International Conference on. :1-4 Sep, 2020

Relation: 2020 IEEE International Conference on High Voltage Engineering and Application (ICHVE)

المؤلفون: Du, B. X., Chang, R., Li, J., Zhu, W. B., Jiang, J. P., Liang, H. C., Wang, M. Y.

المصدر: 2018 IEEE 2nd International Conference on Dielectrics (ICD) Dielectrics (ICD), 2018 IEEE 2nd International Conference on. :1-4 Jul, 2018

Relation: 2018 IEEE 2nd International Conference on Dielectrics (ICD)

المؤلفون: Wu, J., Chen, J., Jiang, X.

المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 7:626-631 2019

المؤلفون: Shihu Yu, Shengtao Li

المصدر: 2016 International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis (CMD) Condition Monitoring and Diagnosis (CMD), 2016 International Conference on. :960-963 Sep, 2016

Relation: 2016 International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis (CMD)

المؤلفون: Kim, Y., Kim, J.K., Weber, L.F.

المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 64(8):3252-3260 Aug, 2017

المؤلفون: Du, B. X., Yang, Z. R., Li, Z. L., Li, J.

المصدر: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation IEEE Trans. Dielect. Electr. Insul. Dielectrics and Electrical Insulation, IEEE Transactions on. 24(3):1340-1348 Jun, 2017

المؤلفون: Lv, Y., Ge, Y., Li, C., Wang, Q., Zhou, Y., Qi, B., Yi, K., Chen, X., Yuan, J.

المصدر: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation IEEE Trans. Dielect. Electr. Insul. Dielectrics and Electrical Insulation, IEEE Transactions on. 23(4):2110-2115 Aug, 2016

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.