المؤلفون: Xu, P., Liu, J., Yu, F., Guo, Q., Tan, S., Zhang, W.

المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-15 2023

المؤلفون: Wang, Yang, Yang, Weidong, Wang, Yanwei, Fan, Huijin, Zheng, Ying

المصدر: 2021 IEEE 10th Data Driven Control and Learning Systems Conference (DDCLS) Data Driven Control and Learning Systems Conference (DDCLS), 2021 IEEE 10th. :685-690 May, 2021

Relation: 2021 IEEE 10th Data Driven Control and Learning Systems Conference (DDCLS)

المؤلفون: Kini, K.R., Madakyaru, M.

المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 8:205863-205877 2020

المؤلفون: K. Ramakrishna Kini, Muddu Madakyaru

المصدر: IEEE Access, Vol 8, Pp 205863-205877 (2020)

مصطلحات موضوعية: Process monitoring, fault detection, independent component analysis, Kantorovich distance, small magnitude faults, Tennessee Eastman process, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://ieeexplore.ieee.org/document/9257420/; https://doaj.org/toc/2169-3536

URL الوصول: https://doaj.org/article/b423215b10f647ba915cf094bb43d2cd

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.