-
1دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-15 2023
-
2مؤتمر
المؤلفون: Wang, Yang, Yang, Weidong, Wang, Yanwei, Fan, Huijin, Zheng, Ying
المصدر: 2021 IEEE 10th Data Driven Control and Learning Systems Conference (DDCLS) Data Driven Control and Learning Systems Conference (DDCLS), 2021 IEEE 10th. :685-690 May, 2021
Relation: 2021 IEEE 10th Data Driven Control and Learning Systems Conference (DDCLS)
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Kini, K.R., Madakyaru, M.
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 8:205863-205877 2020
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: K. Ramakrishna Kini, Muddu Madakyaru
المصدر: IEEE Access, Vol 8, Pp 205863-205877 (2020)
مصطلحات موضوعية: Process monitoring, fault detection, independent component analysis, Kantorovich distance, small magnitude faults, Tennessee Eastman process, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.