لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Yves Fleming, Tom Wirtz

المصدر: Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 6, Iss 1, Pp 1091-1099 (2015)

مصطلحات موضوعية: alloy, atomic force microscopy (AFM), correlative microscopy, differential sputtering, in situ, multimodal imaging, nano-cluster, polymer blend, secondary ion mass spectrometry (SIMS), scanning probe microscopy (SPM), SIMS artefacts, sputter-induced effects, sputter rate, Technology, Chemical technology, TP1-1185, Science, Physics, QC1-999

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doaj.org/toc/2190-4286

URL الوصول: https://doaj.org/article/feb799dccf5a47f0a0dfabf9102cb493

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المساهمون: Wright, B.

المصدر: Journal of Vacuum Science and Technology A--Vacuum, Surfaces and Films, 28(5):1060-1072; 28; 5

وصف الملف: Medium: X

URL الوصول: http://www.osti.gov/scitech/biblio/990115

المؤلفون: Moreno Villavicencio, Maiglid Andreina

المساهمون: Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Lyon, Brice Gautier, STAR, ABES

المصدر: Electronics. Université de Lyon, 2019. English. ⟨NNT : 2019LYSEI122⟩

مصطلحات موضوعية: Scanning spreading resistance microscopy, Reconstruction 3D, Sputter rate map, Cartographie des vitesses de pulvérisation, Electronique des micro-Ondes, 3D Imaging, [SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, Visualisation 3D, Scanning capacitance Microscopy - SCM, SCM - Scanning Capacitance Microscopy, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Caractérisation 3D, 3D visualization, Piezoresponse Force Microscopy - PFM, Microwave Electronics, PFM - Piezoresponse Force Microscopy, Imagerie 3D, 3D Characterization, AFM - Atomic force microscopy, 3D Reconstruction, ToF-SIMS, Caractérisation chimique, Chemical Characterization, Electronic Engineering

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7b362c6f957e398c17f7ffafe1651754
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-02902102/file/these.pdf

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Tom Wirtz, Yves Fleming

المصدر: Beilstein Journal of Nanotechnology
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 6, Iss 1, Pp 1091-1099 (2015)

مصطلحات موضوعية: Materials science, sputter-induced effects, Analytical chemistry, General Physics and Astronomy, multimodal imaging, lcsh:Chemical technology, lcsh:Technology, Full Research Paper, Nanoclusters, scanning probe microscopy (SPM), SIMS artefacts, Scanning probe microscopy, chemistry.chemical_compound, secondary ion mass spectrometry (SIMS), Sputtering, alloy, Nanotechnology, General Materials Science, lcsh:TP1-1185, atomic force microscopy (AFM), differential sputtering, correlative microscopy, Electrical and Electronic Engineering, sputter rate, lcsh:Science, chemistry.chemical_classification, lcsh:T, in situ, Polymer, Cermet, polymer blend, lcsh:QC1-999, Secondary ion mass spectrometry, nano-cluster, Nanoscience, chemistry, lcsh:Q, Polymer blend, Polystyrene, lcsh:Physics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::34dc87952b57c8fb326a1ab31c9da9b4
http://europepmc.org/articles/PMC4464366

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Schiffmann, K.I., Vergöhl, M.

المساهمون: Publica

مصطلحات موضوعية: depth profiling, sputter rate correction, multilayer, optical filter, XRR, SIMS

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::291117448fd380115a9906e45a4ee519
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/231505