يعرض 1 - 10 نتائج من 197 نتيجة بحث عن '"surface leakage"', وقت الاستعلام: 1.07s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Detection algorithm of container surface leakage based on improved YOLOv5s

    المؤلفون: Zhu, Wei, Zhu, HongmeiAff1, IDs11042024197129_cor2, Li, Cheng, Ning, Guangyuan, Jiang, Zhoushu

    المصدر: Multimedia Tools and Applications: An International Journal. :1-22

    Find this article in full text from Springer Verlag. Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Machine Learning Based Wavelet Decomposition Aided Surface Contamination Prediction of Outdoor Silicone Rubber Insulators

    المؤلفون: Sit, Kaushik, Pradhan, Arpan Kumar, Dalai, Sovan, Chatterjee, Biswendu

    المصدر: 2022 IEEE Calcutta Conference (CALCON) Calcutta Conference (CALCON), 2022 IEEE. :332-336 Dec, 2022

    Relation: 2022 IEEE Calcutta Conference (CALCON)

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Research and Experiment Verification of the Shielding Effect of a 1000 kV Equipotential Shielding Capacitor Voltage Transformer in Consideration of Surface Leakage Current

    المؤلفون: Dong, W., Sun, Z., Gao, C., He, Z., Zha, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Power Delivery IEEE Trans. Power Delivery Power Delivery, IEEE Transactions on. 38(2):859-866 Apr, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Deep Dielectric Charging Effect Measurement Using DDCE Monitor

    المؤلفون: Yu, X., Xin, Y., Hong, Z., HongFei, C., YuGuang, Y., QiuGang, Z., YaNan, Q., WeiHong, S., YongFu, W.

    المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 70(4):694-700 Apr, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Effect of Zinc Oxide Nanofiller on the Dielectric Thermal and Optical Properties of Polypropylene

    المؤلفون: Banerjee, A., Bose, N., Lahiri, A.

    المصدر: IEEE Transactions on Industry Applications IEEE Trans. on Ind. Applicat. Industry Applications, IEEE Transactions on. 59(1):479-485 Jan, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Corrections to “Surface Leakage Behaviors of 2.6 μm In0.83Ga0.17As Photodetectors as a Function of Mesa Etching Depth” [Apr 20 doi: 10.1109/JQE.2020.2970745]

    المؤلفون: Liu, Y., Ma, Y., Li, X., Gu, Y., Zhang, Y., Gong, H., Fang, J.

    المصدر: IEEE Journal of Quantum Electronics IEEE J. Quantum Electron. Quantum Electronics, IEEE Journal of. 59(6):1-1 Dec, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    TCAD based Modeling of Sub-surface Leakage in Short Channel Bulk MOSFETs

    المؤلفون: Kansal, Harshit, Medury, Aditya Sankar

    المصدر: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on. :1-4 Sep, 2021

    Relation: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Condition Monitoring of Overhead Polymeric Insulators Employing Hyperbolic Window Stockwell Transform of Surface Leakage Current Signals

    المؤلفون: Sit, K., Das, A.K., Mukherjee, D., Haque, N., Deb, S., Pradhan, A.K., Dalai, S., Chatterjee, B.

    المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 21(9):10957-10964 May, 2021

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    Effect of In-Situ Silicon Carbon Nitride (SiCN) Cap Layer on Performances of AlGaN/GaN MISHFETs

    المؤلفون: Lee, J., Im, K.

    المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 9:728-734 2021

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Characterization of Micro-Bumps for 3DIC Wafer Acceptance Tests

    المؤلفون: Sia, Choon Beng

    المصدر: 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2019 IEEE 32nd International Conference on. :180-183 Mar, 2019

    Relation: 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء