يعرض 1 - 10 نتائج من 54 نتيجة بحث عن '"test solutions"', وقت الاستعلام: 0.92s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 29(6):1271-1284 Jun, 2021

  2. 2
    مؤتمر

    المصدر: 2019 IEEE AUTOTESTCON AUTOTESTCON, 2019 IEEE. :1-2 Aug, 2019

    Relation: 2019 IEEE AUTOTESTCON

  3. 3
    مؤتمر

    المؤلفون: Chin, Jeannette, Tisan, Alin

    المصدر: 2015 IEEE 13th International Conference on Industrial Informatics (INDIN) Industrial Informatics (INDIN), 2015 IEEE 13th International Conference on. :437-441 Jul, 2015

    Relation: 2015 IEEE 13th International Conference on Industrial Informatics (INDIN)

  4. 4
    مؤتمر

    المؤلفون: Chin, Jeannette, Tisan, Alin

    المصدر: 2015 International Conference on Intelligent Environments Intelligent Environments (IE), 2015 International Conference on. :144-147 Jul, 2015

    Relation: 2015 International Conference on Intelligent Environments (IE)

  5. 5
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  7. 7
  8. 8
  9. 9
  10. 10