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1دورية أكاديمية
المؤلفون: Clerix, J.J., Warad, L., Hung, J., Hody, H., Van Roey, F., Lorusso, G., Koret, R., Lee, W.T., Shah, K., Delabie, A.
المصدر: In Applied Surface Science 30 July 2023 626
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2مؤتمر
المؤلفون: Veloso, A., Demuynck, S., Ercken, M., Goethals, A. M., Locorotondo, S., Lazzarino, F., Altamirano, E., Huffman, C., De Keersgieter, A., Brus, S., Demand, M., Struyf, H., De Backer, J., Hermans, J., Delvaux, C., Baudemprez, B., Vandeweyer, T., Van Roey, F., Baerts, C., Goossens, D., Dekkers, H., Ong, P., Heylen, N., Kellens, K., Volders, H., Hikavyy, A., Vrancken, C., Rakowski, M., Verhaegen, S., Dusa, M., Romijn, L., Pigneret, C., Van Dijk, A., Schreutelkamp, R., Cockburn, A., Gravey, V., Meiling, H., Hultermans, B., Lok, S., Shah, K., Rajagopalan, R., Gelatos, J., Richard, O., Bender, H., Vandenberghe, G., Beyer, G. P., Absil, P., Hoffmann, T., Ronse, K., Biesemans, S.
المصدر: 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2009 IEEE International. :1-4 Dec, 2009
Relation: 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
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3مؤتمر
المؤلفون: Veloso, A., Demuynck, S., Ercken, M., Goethals, A. M., Demand, M., de Marneffe, J.-F., Altamirano, E., De Keersgieter, A., Delvaux, C., De Backer, J., Brus, S., Hermans, J., Baudemprez, B., Van Roey, F., Lorusso, G. F., Baerts, C., Goossens, D., Vrancken, C., Mertens, S., Versluijs, J. J., Truffert, V., Huffman, C., Laidler, D., Heylen, N., Ong, P., Parvais, B., Rakowski, M., Verhaegen, S., Hikavyy, A., Meiling, H., Hultermans, B., Romijn, L., Pigneret, C., Lok, S., Van Dijk, A., Shah, K., Noori, A., Gelatos, J., Arghavani, R., Schreutelkamp, R., Boelen, P., Richard, O., Bender, H., Witters, L., Collaert, N., Rooyackers, R., Absil, P., Lauwers, A., Jurczak, M., Hoffmann, T., Vanhaelemeersch, S., Cartuyvels, R., Ronse, K., Biesemans, S.
المصدر: 2008 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2008. IEDM 2008. IEEE International. :1-4 Dec, 2008
Relation: 2008 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
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4
المؤلفون: Lorusso, GF, Sutani, T, Rutigliani, V, Van Roey, F, Moussa, A, Charley, AL, Mack, C, Naulleau, P, Perera, C, Constantoudis, V, Ikota, M, Ishimoto, T, Koshihara, S
المصدر: Journal of Micro/ Nanolithography, MEMS, and MOEMS. 17(4)
مصطلحات موضوعية: Nanoscience & Nanotechnology, Optical Physics, Electrical and Electronic Engineering
URL الوصول: https://escholarship.org/uc/item/1hz5s0w7
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5
المؤلفون: Goethals, A.M., Jonckheere, R., van Roey, F., Hermans, J., Eliat, A., Ronse, K., Wong, P., Zandbergen, P., Vasconi, M., Severgnini, E., Henke, W., Hohle, C., Henry, Dominique, Thony, Ph, Markey, L., Schiavone, P., Fuard, D.
المساهمون: Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Clot, Marielle
المصدر: 157nm Symposium
157nm Symposium, 2002, Antwerp, BelgiumURL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::698c48dd2391537f01ed150fabbdb107
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00486211 -
6مؤتمر
المؤلفون: Lorusso, G. F., Hermans, J., Goethals, A. M., Baudemprez, B., Van Roey, F., Myers, A. M., Kim, I., Kim, B. S., Jonckheere, R. M., Niroomand, A., Lok, S., Van Dijk, A., de Marneffe, J.-F., Demuynck, S., Goossens, D., Ronse, K.
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69210O-69210O-10, 10p
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7مؤتمر
المؤلفون: Hendrickx, E., Goethals, A. M., Niroomand, A., Jonckheere, R., Van Roey, F., Lorusso, G. F., Hermans, J., Baudemprez, B., Ronse, K.
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p714007-714007-11, 11p
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8مؤتمر
المؤلفون: Van Steenwinckel, D., Gronheid, R., Lammers, J. H., Meyers, A. M., Van Roey, F., Willems, P.
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65190V-65190V-11, 11p
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9مؤتمر
المؤلفون: Stepanenko, N., Kim, Hyun-Woo, Kishimura, S., Van Den Heuvel, D., Vandenbroeck, N., Kocsis, M., Foubert, P., Maenhoudt, M., Ercken, M., Van Roey, F., Gronheid, R., Pollentier, I., Vangoidsenhoven, D., Delvaux, C., Baerts, C., O'Brien, S., Fyen, W., Wells, G.
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2006, Issue 1, p615304-615304-17, 17p
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10دورية أكاديمية
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