Resist charging effect correction function qualification for photomasks production

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Resist charging effect correction function qualification for photomasks production
المؤلفون: Ackmann, Paul W., Hayashi, Naoya, Sidorkin, Vadim, Finken, Michael, Wandel, Timo, Nakayamada, Noriaki, Cantrell, G. R.
المصدر: Proceedings of SPIE; October 2014, Vol. 9235 Issue: 1 p92350Z-92350Z-11, 9142662p
قاعدة البيانات: Supplemental Index
الوصف
تدمد:0277786X
DOI:10.1117/12.2066126