التفاصيل البيبلوغرافية
| العنوان: |
A 24Gb/s/pin PAM-4 Built Out Tester chip enabling PAM-4 chips test with NRZ interface ATE |
| المؤلفون: |
Hyungmin Jin, Jindo Byun, Hyunyoon Cho, Hojun Yoon, Jin-Hee Park, Kyoungsoo Kim, Youngdon Choi, Jung-Hwan Choi, Hyungjong Ko, Sang-Hyun Lee |
| المصدر: |
2021 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC). |
| بيانات النشر: |
IEEE, 2021. |
| سنة النشر: |
2021 |
| URL الوصول: |
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b6534849b9f779ec5e328998574178a3
https://doi.org/10.1109/a-sscc53895.2021.9634750 |
| حقوق: |
CLOSED |
| رقم الأكسشن: |
edsair.doi...........b6534849b9f779ec5e328998574178a3 |
| قاعدة البيانات: |
OpenAIRE |
