دورية أكاديمية
Automatic Testing and Fault Detection for Digital and Microprocessor Circuits
| العنوان: | Automatic Testing and Fault Detection for Digital and Microprocessor Circuits |
|---|---|
| المؤلفون: | El Sherif, Hisham Mostafa Kamal, auth |
| المساهمون: | Mahrous, Safwat M., Advisor, Asfour, R. A., Advisor, El Hennawy, H., Advisor |
| الإتاحة: | http://search.mandumah.com/Record/565408 |
| Degree: | رسالة ماجستير |
| قاعدة البيانات: | Al Mandumah |
| الوصف غير متاح. |