دورية أكاديمية
Universal PBTI Relaxation on the Negative VTH Shift in Oxide Semiconductor Transistors and New Insights
العنوان: | Universal PBTI Relaxation on the Negative VTH Shift in Oxide Semiconductor Transistors and New Insights |
---|---|
المؤلفون: | Lin, Z., Zhao, J., Li, X., Kang, L., Li, J., Wu, Y., Xu, J., Si, M. |
المصدر: | IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 44(7):1136-1139 Jul, 2023 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 07413106 15580563 |
---|---|
DOI: | 10.1109/LED.2023.3274771 |