دورية أكاديمية

Extraction of electronic transport parameters in submicrometer gate-length MODFET's

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Extraction of electronic transport parameters in submicrometer gate-length MODFET's
المؤلفون: Fu, S.-T., Das, M.B.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 38(8):1719-1729 Aug, 1991
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/16.119006