دورية أكاديمية
Extraction of electronic transport parameters in submicrometer gate-length MODFET's
العنوان: | Extraction of electronic transport parameters in submicrometer gate-length MODFET's |
---|---|
المؤلفون: | Fu, S.-T., Das, M.B. |
المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 38(8):1719-1729 Aug, 1991 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
تدمد: | 00189383 15579646 |
---|---|
DOI: | 10.1109/16.119006 |