دورية أكاديمية
Simulation and analysis of transient faults in digital circuits
العنوان: | Simulation and analysis of transient faults in digital circuits |
---|---|
المؤلفون: | Yang, F.L., Saleh, R.A. |
المصدر: | IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 27(3):258-264 Mar, 1992 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
كن أول من يترك تعليقا!