دورية أكاديمية

Simulation and analysis of transient faults in digital circuits

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Simulation and analysis of transient faults in digital circuits
المؤلفون: Yang, F.L., Saleh, R.A.
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 27(3):258-264 Mar, 1992
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library