دورية أكاديمية

A novel approach for the patterning and high-volume production of sub-40-nm gates

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: A novel approach for the patterning and high-volume production of sub-40-nm gates
المؤلفون: Romero, K., Stephan, R., Grasshoff, G., Mazur, M., Ruelke, H., Huy, K., Klais, J., McGowan, S., Dakshina-Murthy, S., Bell, S., Wright, M.
المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 18(4):539-545 Nov, 2005
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:08946507
15582345
DOI:10.1109/TSM.2005.858518