دورية أكاديمية

Dose-rate sensitivity of modern nMOSFETs

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Dose-rate sensitivity of modern nMOSFETs
المؤلفون: Witczak, S.C., Lacoe, R.C., Osborn, J.V., Hutson, J.M., Moss, S.C.
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 52(6):2602-2608 Dec, 2005
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189499
15581578
DOI:10.1109/TNS.2005.860709