دورية أكاديمية

Study of the radiation hardness of irradiated AToM front-end chips of the BaBar silicon vertex tracker

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Study of the radiation hardness of irradiated AToM front-end chips of the BaBar silicon vertex tracker
المؤلفون: Bettarini, S., Bondioli, M., Bosisio, L., Calderini, G., Dittongo, S., Forti, F., Giorgi, M.A.
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 53(2):584-588 Apr, 2006
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189499
15581578
DOI:10.1109/TNS.2006.870183