دورية أكاديمية
Linewidth effect and phase control in Ni fully silicided gates
| العنوان: | Linewidth effect and phase control in Ni fully silicided gates |
|---|---|
| المؤلفون: | Kittl, J.A., Lauwers, A., Hoffmann, T., Veloso, A., Kubicek, S., Niwa, M., van Dal, M.J.H., Pawlak, M.A., Demeurisse, C., Vrancken, C., Brijs, B., Absil, P., Biesemans, S. |
| المصدر: | IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 27(8):647-649 Aug, 2006 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!