دورية أكاديمية

SiC MOS interface characteristics

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: SiC MOS interface characteristics
المؤلفون: Brown, D.M., Ghezzo, M., Kretchmer, J., Downey, E., Pimbley, J., Palmour, J.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 41(4):618-620 Apr, 1994
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library