Low-Power and Process Variation Tolerant Memories in sub-90nm Technologies

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Low-Power and Process Variation Tolerant Memories in sub-90nm Technologies
المؤلفون: Saibal Mukhopadhyay, Swaroop Ghosh, Keejong Kim, Kaushik Roy
المصدر: 2006 IEEE International SOC Conference SOC Conference, 2006 IEEE International. :155-159 Sep, 2006
Relation: 2006 IEEE International SOC Conference
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:0780397827
9780780397828
0780397819
9780780397811
تدمد:21641676
21641706
DOI:10.1109/SOCC.2006.283871