دورية أكاديمية
Test Structure for Characterizing Low Voltage Coplanar EWOD System
| العنوان: | Test Structure for Characterizing Low Voltage Coplanar EWOD System |
|---|---|
| المؤلفون: | Li, Y., Mita, Y., Haworth, L. I., Parkes, W., Kubota, M., Walton, A. J. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 22(1):88-95 Feb, 2009 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!