دورية أكاديمية
Analysis of Defect Tolerance in Molecular Crossbar Electronics
| العنوان: | Analysis of Defect Tolerance in Molecular Crossbar Electronics |
|---|---|
| المؤلفون: | Dai, J., Wang, L., Jain, F. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 17(4):529-540 Apr, 2009 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!