دورية أكاديمية
Constant-Voltage-Bias Stress Testing of a-IGZO Thin-Film Transistors
| العنوان: | Constant-Voltage-Bias Stress Testing of a-IGZO Thin-Film Transistors |
|---|---|
| المؤلفون: | Hoshino, K., Hong, D., Chiang, H. Q., Wager, J. F. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 56(7):1365-1370 Jul, 2009 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!