Circuit-level benchmarking of access devices for resistive nonvolatile memory arrays

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Circuit-level benchmarking of access devices for resistive nonvolatile memory arrays
المؤلفون: Narayanan, P., Burr, G. W., Shenoy, R. S., Virwani, K., Kurdi, B.
المصدر: 2014 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting (IEDM), 2014 IEEE International. :29.7.1-29.7.4 Dec, 2014
Relation: 2014 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9781479980017
تدمد:01631918
2156017X
DOI:10.1109/IEDM.2014.7047137