دورية أكاديمية

IGBT and Diode Behavior During Short-Circuit Type 3

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: IGBT and Diode Behavior During Short-Circuit Type 3
المؤلفون: Fuhrmann, J., Klauke, S., Eckel, H.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 62(11):3786-3791 Nov, 2015
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2015.2477324