دورية أكاديمية
Double-Tip Artifact Removal From Atomic Force Microscopy Images
| العنوان: | Double-Tip Artifact Removal From Atomic Force Microscopy Images |
|---|---|
| المؤلفون: | Wang, Y., Kilpatrick, J.I., Jarvis, S.P., Frank Boland, F.M., Kokaram, A., Corrigan, D. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Image Processing IEEE Trans. on Image Process. Image Processing, IEEE Transactions on. 25(6):2774-2788 Jun, 2016 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!