دورية أكاديمية

FETs on 2-D Materials: Deconvolution of the Channel and Contact Characteristics by Four-Terminal Resistance Measurements on WSe2 Transistors

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: FETs on 2-D Materials: Deconvolution of the Channel and Contact Characteristics by Four-Terminal Resistance Measurements on WSe2 Transistors
المؤلفون: Sutar, S., Asselberghs, I., Lin, D.H.C., Thean, A.V., Radu, I.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 64(7):2970-2976 Jul, 2017
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2017.2698601