دورية أكاديمية
ADAGE: Automatic DfT-Assisted Generation of Test Stimuli for Mixed- Signal Integrated Circuits
| العنوان: | ADAGE: Automatic DfT-Assisted Generation of Test Stimuli for Mixed- Signal Integrated Circuits |
|---|---|
| المؤلفون: | Coyette, A., Esen, B., Xama, N., Gielen, G., Dobbelaere, W., Vanhooren, R. |
| المصدر: | IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 35(3):24-30 Jun, 2018 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!