التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: |
Interface engineering of BEOL compatible ferroelectric Y:HfO2 device for enhanced endurance |
المؤلفون: |
Molina, J., Mimura, T., Nakamura, Y., Shimizu, T., Funakubo, H., Fujiwara, I., Hoshii, T., Ohmi, S., Hori, A., Wakabayashi, H., Tsutsui, K., Kakushima, K. |
المصدر: |
2020 IEEE International Memory Workshop (IMW) Memory Workshop (IMW), 2020 IEEE International. :1-4 May, 2020 |
Relation: |
2020 IEEE International Memory Workshop (IMW) |
قاعدة البيانات: |
IEEE Xplore Digital Library |