دورية أكاديمية
Exploration of Negative Capacitance in Gate-All-Around Si Nanosheet Transistors
| العنوان: | Exploration of Negative Capacitance in Gate-All-Around Si Nanosheet Transistors |
|---|---|
| المؤلفون: | Sakib, F.I., Hasan, M.A., Hossain, M. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 67(11):5236-5242 Nov, 2020 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 00189383 15579646 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/TED.2020.3025524 |