مؤتمر
Enabling Multiple-Vt Device Scaling for CMOS Technology beyond 7nm Node
| العنوان: | Enabling Multiple-Vt Device Scaling for CMOS Technology beyond 7nm Node |
|---|---|
| المؤلفون: | Chang, Vincent S., Wang, S. H., Lu, J. H., Wu, W. H., Wu, B. F., Hsu, B. C., Kwong, K. C., Yeh, J. Y., Chang, C. H., Chen, C. H., Chui, C. O., Yeh, M. S., Huang, K. B., Chen, R., Chen, K. S., Wu, S. Y. |
| المصدر: | 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2020 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2020 |
| Relation: | 2020 IEEE Symposium on VLSI Technology |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder كن أول من يترك تعليقا!